ESD-VEILIGE MICROSCOPEN
Elektrostatische ontlading (ESD) is de plotselinge ongewenste stroom tussen twee elektrisch geladen objecten. ESD kan zowel een reeks schadelijke effecten als blijvende schade aan elektronische componenten veroorzaken. Het lichaam en de statieven van de microscoop zijn voorzien van een speciale statisch dissipatieve coating die schadelijke elektrostatische ontladingen elimineert, zodat de microscopen geschikt zijn voor alle statisch gevoelige omgevingen.
NexiusZoom ESD-serie
Technische gegevens
- Oculairs: paar WF 10x/22 mm, beide oculairs met ± 5 dioptrie-instelling
- Hoofd: bino- of trinoculair hoofd met 45° schuine kijkhoek, oogafstand instelbaar van 54 mm tot 75 mm
- Lenzen: zoom 1:6,7; 0,67x tot 4,5x vergroting; gezichtsveld van 33 mm tot 4,9 mm; werkafstand 110 mm
- Voorzetlens: 0,5x / 0,75x / 1,5x en 2,0x optioneel
- Statief: ergonomisch vormgegeven zuil- of statief met vaste arm met LED-belichting en twee objectklemmen of ergonomisch vormgegeven zwenkarm statief met één of dubbele arm met grof instelling, zonder belichting.
- Materiaal: metaallegering, wit gelakt
- Belichting: op- en doorvallend licht, regelbare LED-belichting 3 W.
Alle optische onderdelen zijn behandeld tegen schimmels.
NZ.1902-B-ESD, NexiusZoom, 0,67-45x, dubbele arm, zonder verlichting, ESD
- Objectief: zoom 0,67x - 4,5 x
- Oculairs: WF 10x/22 oculairs in 45° schuine buis met +/- 5 dioptrie-instelling
- Vergroting: van 6,7 tot 45x
- Gezichtsveld: van 33 mm tot 4,9 mm
- Vrije werkafstand: 110 mm
- Statieven: dubbele arm met basisplaat
- Belichting: zonder belichting
- ESD
- Verpakt in een piepschuimdoos
